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CMOS Erklärung und Skizze eines p-Kanal-MOSFET
CMOS steht für "Complementary Metal-Oxide-Semiconductor". Es handelt sich um eine Technologie für die Konstruktion integrierter Schaltkreise (ICs), die in einer Vielzahl elektronischer Bauteile, von Mikroprozessoren bis zu Speicherchips, verwendet wird. CMOS-Technologie wird aufgrund ihres geringen Stromverbrauchs und ihrer hohen Dichte bevorzugt. In einer CMOS-Logik umfasst ein Paar von Transistoren jeweils einen n-Kanal MOSFET und einen p-Kanal MOSFET.
Eine detaillierte Skizze eines p-Kanal-MOSFETs würde den Transistor mit Source, Kanal und Drain in der p-Region zeigen, wobei das Gate oberhalb des Kanals und isoliert durch eine dünne Oxidschicht angeordnet ist. Die Raumladungszonen würden sich an den pn-Übergängen zwischen den p-dotierten Source/Drain-Gebieten und dem n-dotierten Kanal ausbreiten. Der Potentialverlauf und der Verlauf des elektrischen Feldes würden zeigen, wie das Gate-Potential den Kanal steuert, was aber ohne spezifische Daten schwierig genau darzustellen ist.
Höhe der pnp-Barriere berechnen
Die Höhe der pnp-Barriere (\(\Phi_{0}\)) bezieht sich in diesem Kontext auf die Potentialdifferenz, die benötigt wird, um die Löcher von der Source über den Kanal zum Drain in einem p-Kanal MOSFET zu bewegen. Für eine grundlegende Berechnung dieser Barriere können wir das Konzept der eingebauten Potentiale in pn-Übergängen heranziehen und verwenden die Formel:
\(
\Phi_{0} = \frac{k_B T}{q} \ln\left(\frac{N_A N_D}{n_i^2}\right)
\)
wobei:
- \(k_B\) die Boltzmann-Konstante (\(8,617 \times 10^{-5} eV/K\)),
- \(T\) die absolute Temperatur (Raumtemperatur, in der Regel \(298 K\)),
- \(q\) die Elementarladung (\(1,6 \times 10^{-19} C\)),
- \(N_A\) die Akzeptor-Dotierstoffkonzentration im p-Gebiet (Source),
- \(N_D\) die Donator-Dotierstoffkonzentration im n-Gebiet (Kanal),
- \(n_i\) die intrinsische Ladungsträgerkonzentration in Silizium bei Raumtemperatur (\(1,5 \times 10^{10} cm^{-3}\)).
Setzen wir die gegebenen Werte ein:
- \(N_A = 1 \times 10^{19} cm^{-3}\)
- \(N_D = 3 \times 10^{18} cm^{-3}\)
- \(T = 298 K\)
- \(n_i = 1,5 \times 10^{10} cm^{-3}\)
\(
\Phi_{0} = \frac{8,617 \times 10^{-5} eV/K \times 298 K}{1,6 \times 10^{-19} C} \ln\left(\frac{1 \times 10^{19} cm^{-3} \times 3 \times 10^{18} cm^{-3}}{(1,5 \times 10^{10} cm^{-3})^2}\right)
\)
\(
\Phi_{0} = \frac{0,0259 V}{1,6 \times 10^{-19} C} \ln\left(\frac{3 \times 10^{37} cm^{-6}}{2,25 \times 10^{20} cm^{-6}}\right)
\)
\(
\Phi_{0} = \frac{0,0259 V}{1,6 \times 10^{-19} C} \ln\left(1,333 \times 10^{17}\right)
\)
\(
\Phi_{0} = 0,0259 V \cdot 39,14
\)
\(
\Phi_{0} = 1,014 eV
\)
So beträgt die Höhe der pnp-Barriere \(\Phi_{0}\) ungefähr \(1,014 eV\), die die Source-Löcher daran hindert, Richtung Drain zu fließen.